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检测项:**全部参数 检测样品:机动车灯具 标准:ECE R8《关于机动车辆上发出不对称近光或远光或一束近光和一束远光且装有卤素灯丝灯泡(H1, H2, H3, HB3, HB4, H7, H8, H9, HIR1,HIR2 和/或H11)的前照灯认证的统一规定》
检测项:**全部参数 检测样品:机动车灯具 标准:ECE R20《关于机动车辆上发出不对称近光或远光或一束近光和一束远光且装有卤素灯丝灯泡(H4 类灯泡)的前照灯认证的统一规定》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:氢同位素 检测样品:地质样品 标准:H2-H2O平衡法测水的H同位素 No.G32
检测项:氧同位素 检测样品:地质样品 标准:CO2-H2O平衡法测水的O同位素 No.G30
检测项:洛氏硬度试验 检测样品:金属制品 标准:金属材料 洛氏硬度试验第1部分:试验方法(A、B、C、D、E、F、G、H、K、N、T标尺) GB/T230.1-2009
机构所在地:江西省抚州市 更多相关信息>>
检测项:交流输出端子骚扰电压 检测样品:不间断电源设备(UPS) 第2部分:电磁兼容性(EMC)要求 标准:不间断电源设备(UPS) 第2部分:电磁兼容性(EMC)要求 GB 7260.2-2009; 不间断电源设备(UPS) 第2部分:电磁兼容性(EMC)要求 IEC 62040-2:2005; 不间断电源设备(UPS) 第2部分:电磁兼容性(EMC)要求
检测项:交变温热 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db 交变湿热(12h+12h循环) GB/T 2423.4-2008
检测项:湿度/温度组合循环试验 检测样品:电工电子产品 标准:环境试验.第2-30部分:试验 试验Db:交变温热(12h+12h循环) IEC 60068-2-30:2005
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:ECL电路 标准:半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输出电流 检测样品: 标准:
检测项:输出纹波电压 检测样品: 标准:
检测项:输出高电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:高电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高电平电源电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3009.1
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.7条
检测项:输出高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.11条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:线路输出最高电平 检测样品:调音台 标准:《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989
检测项:线路输入最高电平 检测样品:调音台 标准:《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989
检测项:图像输出接口 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996